絕緣電阻測(cè)試儀（美國(guó)AVO）的詳細(xì)介紹

l 測(cè)試電壓從50V到5000V或10000V可變；

l 20V電源和電池供電；

l 數(shù)字和模擬背光顯示；

l 自動(dòng)進(jìn)行I,  R,  PI,  DAR,  SV或DD測(cè)試；

l 測(cè)試阻抗可達(dá)15TΩ或35T;

l 輸出電流5mA；

l RS232和USB傳輸端口，輸出測(cè)試數(shù)據(jù)，測(cè)試數(shù)據(jù)能儲(chǔ)存在儀器中；

產(chǎn)品特點(diǎn)：  

▲ 全新的 S1-1054/2 絕緣電阻測(cè)試儀 是MEGGER特別設(shè)計(jì) , 用來(lái)測(cè)試和維護(hù)高壓設(shè)備的儀器。

▲ IEEE43-2000 推薦使用者可以使用 S1-1054/2 來(lái)測(cè)試額定超過(guò) 12KV 的電動(dòng)機(jī)的繞組。

▲ 雙路電源輸入設(shè)計(jì)：可充電電池或主電源輸入。儀器可由 220V 電源供電，也可以由儀器內(nèi)置可以充電電池供電。這樣有一個(gè)好處就是要測(cè)試的場(chǎng)所不清楚是否有電源或者測(cè)試周期不清楚的時(shí)候，都可以來(lái)進(jìn)行測(cè)試。

▲ 數(shù)字 / 模擬雙顯示測(cè)試結(jié)果

▲ 測(cè)試電壓由 50V 至 10KV 可調(diào)

測(cè)試電壓在 50V-1000V 的范圍里以 10V （步進(jìn)）微調(diào)， 1000V-10000V 的范圍里以 25V （步進(jìn)）微調(diào)。

▲ 絕緣電阻測(cè)量測(cè)試范圍擴(kuò)展為 35TΩ, 用于對(duì)高質(zhì)量絕緣材料的絕緣趨勢(shì)分析等。

▲ 短路電流： 5mA

▲ 測(cè)試電流范圍： 0.01 mA~5mA

▲ 抗干擾： 4 mA rms

▲ 全新設(shè)計(jì)的背光 LCD 顯示屏使操作者在陽(yáng)光下或者光線很暗的情況下輕松讀出數(shù)據(jù)。

▲ 絕緣電阻測(cè)試儀顯示的信息：絕緣阻值，實(shí)時(shí)測(cè)試電壓，泄漏電流，等效電容，電池狀態(tài)和時(shí)間常數(shù)。同時(shí)，每次測(cè)試時(shí) LCD 上還會(huì)顯示已測(cè)試時(shí)間，這就不需要在測(cè)試時(shí)額外計(jì)時(shí)。

▲ 絕緣電阻測(cè)試儀內(nèi)置了多個(gè)計(jì)時(shí)器，還具備絕緣測(cè)試設(shè)限告警功能。

▲ 儀器上還帶有一個(gè)接地端子，使儀器能提高其精確性。

▲ 儀器的標(biāo)號(hào)分別標(biāo)在儀器的頂部和旁邊，方便儲(chǔ)存或者運(yùn)輸?shù)臅r(shí)候辨認(rèn)。

▲ 儀器的控制的操作都清楚的寫(xiě)在儀器隨機(jī)器附帶的說(shuō)明書(shū)里面。

產(chǎn)品功能：

內(nèi)置多種自動(dòng)測(cè)試程序：

▲ IR 絕緣電阻測(cè)試、

▲ DAR 吸收比測(cè)試 （ 介電吸收率 ） 、

▲ PI 極化指數(shù)測(cè)試、

▲ SV 步進(jìn)電壓 （ 跨步電壓 ） 測(cè)試

▲ DD 測(cè)試 （ 介質(zhì)放電 ） ）

▲ 測(cè)試上限擴(kuò)展： 35TΩ

▲ 提供 USB 與 RS232 接口下載數(shù)據(jù)

▲ 儀器內(nèi)置 32KB 存儲(chǔ)器可保存測(cè)試結(jié)果： 電壓，測(cè)試時(shí)間，泄漏電流，阻抗，電容， PI, DAR, DD